📌 📄 内容摘要:
@stevessr 在 电子显微镜显示半导体中的“鼠咬”缺陷 中发帖
康奈尔的研究人员首次利用高分辨率3D成像检测到计算机芯片中可能破坏性能的原子级缺陷。
该成像方法是与台积电（TSMC）和先进半导体材料（ASM）合作的成果，几乎涵盖了手机、汽车、人工智能数据中心和量子计算等现代电子产品。
[17726405924285249390957962167697]
https://www.nature.com/articles/s41467-026-69733-1
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